DigitalMicrograph透射電子顯微鏡TEM控制「光束空白」

我一直在嘗試使用DM腳本來獲取一系列圖像的過程自動化。在兩次採集之間還有處理時間，電子束仍然照亮樣品。是否有任何用於控制光束空白的DM腳本功能（以便它也適用於光束敏感材料）？我會很感激任何反饋/響應。DigitalMicrograph透射電子顯微鏡TEM控制「光束空白」

GMS 3.2有這樣的命令 - 但並不是所有的系統都支持它。你可以用EMHasBeamBlanker()來檢查這個，然後用EMSetBeamBlanked(bool)和bool EMGetBeamBlanked()

2017-10-19 15:57:16 BmyGuest

謝謝@BmyGuest !!!不幸的是我們的顯微鏡在GMS 1.8上......我只需要找到其他方法。 –

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