使用OrderedDecoupledHWIOTester測試多個解耦輸入端口

Question

OrderedDecoupledHWIOTester是否支持測試具有兩個或多個解耦輸入端口的DUT？

例如：

有什麼方法來表達是這樣的：

InputEvent的（decoupledPort1.bits < - 10）

InputEvent的（decoupledPort2.bits < - 11）

在這兩個端口中同時創建兩個門控值系列？

Answer 1

簡短的回答是沒有。 已訂購部分OrderedDecoupledHWIOTester意味着輸入事件不是併發的。我想你可以使用chisel3.iotesters.AdvTester來實現這個功能。但我沒有看到任何好的例子。我會看看我能否創建一個。