用Labview排出3V鈕釦電池來測試電池的使用壽命？

Question

我想模擬/測量3V鈕釦電池的使用壽命。這是這將給突發到所述電池的電路：

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突發與CTRL1和CTRL2線與一些定時rquirements控制。

一個突發是：

   ARM TX RX  TX  RX TX 
CTRL1   L  H H  H  H H 
CTRL2   H  H L  H  L H 
Length (ms)  3.72 2.6 0.84 4.04 0.8 1 

H = 10 V 
L = 0 V 

現在我想通過應用一個突發間隙的一個突發間隙等，以消耗電池.. 的間隙應是可變的。首先，我想用10秒作爲差距。我想繪製電池特性。我想模擬例如5年，這應該是1.2天的模擬。我有NI PCI 6221（37針）DAQ卡。有人能幫我爲這個項目製作一個VI嗎？爆發應該處於一個循環中，我應該能夠控制它應該運行多長時間（即1天或1.5天）以及我如何將10 V或0 V應用於Labview中的CTRL1和CTRL2行？

在此先感謝。

編輯：

確定我現在已經由具有從其中電壓獲取的輸入的物理信道一個汽車無獲取電壓和圖形VI。但我不知道如何做計數器部分，它會輸出TTL（MOSFET）的定時信號來創建帶有間隙的突發信號，然後這些信號將會流失電池。

Answer 1

從DAQ助手開始。尋找包含這個VI的教程。 在測量I/O> DAQmx - 數據採集> DAQ助手下查看框圖。您應該可以將其掛接到您的DAQ卡上。

也請看NI Forums。

編輯：如果您不熟悉或不熟悉LabVIEW，只需瀏覽位於NI LabVIEW \ LabVIEW x.x \ examples中的示例代碼即可。對於你的應用程序，examples \ DAQmx可能會有相關的代碼。首先堅持基礎，例如\一般。你甚至可以修改這些例子只是不要意外覆蓋。