我們如何驗證所有可能的輸入參數組合？

Question

說，我編寫單元測試用於如下聲明兩個功能：

void target_func_1(int param1, int param2); 
void target_func_2(int param1, int param2, int param3, int param4, int param5, int param6); 

對於上述兩個功能，所有輸入參數預計是-1或陽性。

所有可能的測試用例用於驗證的target_func_1輸入參數列在下面

• 的param1 < -1 & & param2的> = -1 //未能
• 參數1> = -1 & & param2的< - 1 //失敗
• param1 < -1 & & param2 < -1 //失敗
• 參數1> = -1 & & param2的> = -1 //成功

這看起來簡單。但是，target_func_2呢？可能有極端數量的六個輸入參數的可能組合。我是否必須爲target_func_2編寫所有這些測試用例？

Answer 1

簡單的答案是：你不寫一個需要6個參數的方法。

換句話說：當你（通過與羅伯特·馬丁和其他人的名字學習優秀圖書爲例）瞭解乾淨的代碼你會發現，如此高的參數是絕對氣餒。

並請明白：這不僅是因爲你有這麼多的排列到測試 - 但除此之外：這些參數可能都你的產品代碼中使用。

從這個意義上說，真正的答案不是如何合理測試這種方法。它是：你不能以合理的方式測試這些方法;你不能以合理的方式實施它們，因此你不應該寫它們。

（請注意：這是關於必須做出基於參數決定的方法;如果你說，剛剛打印出來，例如這將是一個有點不同的故事）

上多少，讓我們引用前面提到的書：

函數的理想參數個數爲零（niladic）。接下來是一個（monadic），接下來是兩個（二元）。應儘可能避免三個論點（三元）。超過三個（多邊形）需要非常特殊的理由 - 然後不應該被使用。

並請注意：這是底層編程語言的獨立！

對於遺留代碼，我建議兩個摺疊方法。首先，你關注合同中方法的公共上。含義：你試圖理解「進入的內容」和「出去的內容」。然後，你可能會做一些覆蓋測量，也許添加更多的測試（針對採取的方法中的某些路徑）。但備案：你寫的測試，以使您能夠重構與此類遺留代碼。

除此之外：另一種方法可能是考慮基礎上，QuickCheck想法測試。含義：您指定性能的方法，然後框架爲您創建隨機參數，並試圖找出導致失敗的（關於這些屬性）的情況。