從AFM測量中計算粒度分佈

Question

我試圖從某些AFM（原子力顯微鏡）測量中獲得半徑和直徑分佈。到目前爲止，我正在嘗試使用Gwyddion，ImageJ和Matlab中的不同工作流程。

目前我發現的最好結果是使用Gwyddion並採取相位圖像，高通濾波器，然後嘗試使用'高斯拉普拉斯算子'進行邊緣檢測。結果如圖3所示。然而，該圖像仍然太嘈雜，並且不能真正捕獲所有粒子的邊緣。 （有些合併在一起的其他人沒有清晰的邊界）。

最後，我需要一個圖像，分割每個球形粒子，我可以用它來進行斑點檢測/分析以獲得大小/半徑信息。

任何人都可以推薦一種不同的方法嗎？

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Answer 1

我肯定會嘗試Granulometry，它是專爲真正的類似的東西。有a good explanation of granulometry here starting page 158。

粒度測量將執行連續/增加的開口，將根據其尺寸擦除不同的圖案。模式越大，後者將被擦除。它會給你一條曲線來表示圖像中的圖案尺寸分佈，正是你想要的。

但是，它不會給你關於圖像內部位置的任何信息。如果您想要對圖像中存在的斑點進行粗略建模，您可以查看「最終打開」。