non-volatile

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    運行Linux的嵌入式設備。通常,MTD設備文件子系統用於與閃存進行交互。 我對這些設備上的內存管理有幾個問題。設備存儲器映射規範不可用。 我們在嵌入式設備上訪問內存的方法很少,其中直接調用內存地址,例如調試時直接寫入內存地址的某個值,或者使用命令在物理地址上讀取: show <hex address> <number of words to display> 此命令是否執行對設備的NVRAM

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    在嵌入式環境中(使用MSP430),我看到了由於對非易失性存儲器的部分寫入而導致的一些數據損壞。這似乎是由寫入過程中的功耗(FRAM或信息段)造成的。 我使用CRC驗證存儲在這些位置的數據。 我的問題是,什麼是防止這種「部分寫入」腐敗的正確方法?目前,我修改了我的代碼以寫入兩個單獨的FRAM位置。所以,如果一個寫入被中斷導致無效的CRC,另一個位置應該保持有效。這是常見的做法嗎?我是否需要爲任何非

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    當操作系統突然終止一個進程(讓我們假設Linux)通過GPF或SIGKILL或類似的操作系統時,操作系統是否將修改後的CPU緩存行刷新到主內存?有不同的行爲取決於CPU或操作系統? 我正在評估非易失性內存功能,並想知道應用程序在發生崩潰時如何寫入內存。具體是否缺少當前修改的CPU緩存行。我還沒有找到有關這方面的官方聲明。 感謝您的幫助!

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    我希望找到一個非VBA替代更改下列公式揮發(由於INDIRECT()被使用)非易失性之一: =(MAX(A1:INDIRECT("A"&D1))*MAX(B1:INDIRECT("B"&D1))) ...其中上面的單元格引用D1包含作品出最後的行的行數,它包含在電子表格中的數據(6中的示例列表下方)的公式: A B 1 | 4 1 2 | 6 3 | 7 4 | 2 8 5 | 3

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    所以從我讀取的SRAM是易失性的,EEPROM是非易失性的。如果SRAM是易失性的,當我使用* ptr時,如何獲得值(隨機和垃圾但仍然是值)。 例如,對於PTR = & X,* PTR會給我一個值。我不應該得到NULL,因爲它是易失性的,每次關閉電源時都會擦除SRAM。

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    我有一個編譯器錯誤階型,我不知道這是什麼參考: 假設這些聲明: trait Abstract { type MyType } trait AInner trait A extends Abstract{ type MyType <: AInner } trait BInner { def bMethod : Int } trait B extends A

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    我有一張Excel工作表,我根據數字樂段選擇隨機行。我最初的目標是選擇一行並保存隨機數發生器所選擇的時間。但是,由於rand()函數的重新計算和波動性,我無法保存所有行的選擇時間;只有當前的一個。 | A | B | C | D |E|F| G | H | I | -+------+-------------+-------------+-----+-+-+------+------+

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    我有一個DE1的SoC董事會,並想與它進行實驗。 (板子描述: http://www.terasic.com.tw/cgi-bin/page/archive.pl?Language=English&CategoryNo=205&No=836&PartNo=1) 我的願望是合併非易失性存儲。 至於開始,執行下面的練習會讓我開心: When the board is turned on, the in

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    我試圖在系統啓動後檢索兩個1位值(即它們的先前值),或者在正常操作期間如果情況改變,則將其寫入它。當我說「系統啓動」時,我想說清楚這是一個位於非常大的系統內的子系統。 想法是,如果我斷開這個子系統,系統的其餘部分不受影響。我將根據最後一個已知狀態保留兩個1位值。再次啓動子系統時,根據我的處理,這些1位值將被保留或被新值覆蓋。出於保密原因,我不能深入到比現有更深的地步。 我的做法至今 連接的是,這是

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    如果我將變量標記爲易失性變量,那麼在代碼中的每次訪問都會得到保證讀取。 但非易失性變量呢? 是否每個函數/塊保證至少有一次讀取,或者是否可以跨越功能邊界對值進行優化?